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光峰3LCD激光短焦投影机
深圳光峰科技股份有限公司 2021-08-23
SD-YAG0505-600W金属激光切割机
SD-YAG0505窄幅面十字滑台式YAG激光切割机由机体、激光器、电源、冷却系统、控制系统组成,具有结构紧凑、光路稳定、操作方便、性能可靠等特点。 YAG激光器采用氙灯作为激励源,输出高能量密度的激光束聚焦在工件表面上,使被光斑照射的工件区域局部瞬间熔化和气化,通过控制机械系统移动光斑实现可靠的自动切割。 该设备集激光技术、数控技术、精密机械技术于一体,专为8mm以下薄金属切割设计,是切割不锈钢板、碳钢板、铁板、铝板材和管材的首选。广泛应用于钣金、五金制品、钢结构、精密机械、汽车配件、铭牌、广告、工艺品、电子、玩具、包装等行业。
华特数字科技有限公司 2021-06-17
LF-3015MB自动卷料激光切割机
安全无污染 全封闭式设计;观察窗口采用欧洲CE标准防护玻璃;切割产生烟尘内部过滤处理,达标排放,无污染; PAD设计显示屏 采用高清钢化玻璃使屏幕更加精致细腻,操作更顺畅。反应速度快,对比度高,视角广,功耗低,分辨率高,具有更高亮度,更低的反射率,钢化玻璃面板坚固耐用。
济南金威刻科技发展有限公司 2021-06-16
爱普生CB-1485Fi高亮高清激光超短焦互动
爱普生(中国)有限公司 2021-08-23
爱普生CB-720高亮激光超短焦投影机
爱普生(中国)有限公司 2021-08-23
德国BOCSH博世手持激光测距仪DLE40
产品详细介绍德国BOCSH博世手持激光测距仪DLE40|德国博世激光测距仪,德国博世40米测距仪,德国博世测距仪,连云港激光测距仪,江苏激光测距仪,手持激光测距仪 简单介绍 德国BOCSH博世手持激光测距仪DLE40|德国博世激光测距仪适用范围 本仪器适用于测量距离,长度,高度和间距。此外您也可以使用本仪器计算面积和体积。不管是室内装潢或屋外的修补,本仪器都是测量尺寸的好帮手。【新品上市40米.50米.70米原装行货】 德国BOCSH博世手持激光测距仪DLE40|德国博世激光测距仪的详细介绍 德国BOCSH博世手持激光测距仪DLE40|德国博世激光测距仪 适用范围    本仪器适用于测量距离,长度,高度和间距。此外您也可以使用本仪器计算面积和体积。不管是室内装潢或屋外的修补,本仪器都是测量尺寸的好帮手。 主要特点 测量精准,应用范围广泛 高度仅100毫米 自动断电功能,低电量显示 软握把 技术参数 测量范围 0,05 – 40 米  测量精度 ± 1,5 毫米  激光等级 2  激光类型 635nm, < 1mW  保护等级(防水、防尘) IP 54  电源 电池: 4 x 1,5 伏 LR03 (AAA)    充电电池: 4 x 1,2 伏 LR03 (AAA)  电池使用时间 30.000 次  充电电池使用时间略低 5.000 次  自动关机时间 20秒 (激光)    5 分钟 (机器)  三脚架接口 1/4“  尺寸 100 x 58 x 32 毫米  重量 180克  包装(内含)  防护包x1 1.5V电池x4节 鉴定证书x1份 主机X1台 质量保证: 博世品牌测量工具提供叁年的有效质量保证服务
连云港金升科技有限公司 2021-08-23
二维Bi2O2Se超快高敏红外芯片材料
具有超高电子迁移率、合适带隙、环境稳定和可批量制备特点的全新二维半导体芯片材料(硒氧化铋,Bi 2 O 2 Se),在场效应晶体管器件、量子输运和可见光探测方面展现出优异性能。由Bi 2 O 2 Se制备成的原型光电探测器件具有很宽的光谱响应(从可见光到1700 nm短波红外区),并同时具有很高的灵敏度(在近红外二区1200nm处灵敏度高达~65A/W)。 而利用飞秒激光器组建的超快光电流动态扫描显示Bi 2 O 2 Se光电探测器具有约1皮秒(10 -12 秒)的本征超快光电流响应时间。化合物由交替堆叠的Bi 2 O 2 和Se层组成,晶体中氧的存在,使其在空气中具有极佳的稳定性,完全可暴露于空气中存放数月且保持稳定。
北京大学 2021-04-11
基于卷积神经网络的可重构类脑计算芯片及支撑系统研发
研发阶段/n主要研究支持神经网络芯片的设计自动化工具及FPGA验证系统,设计自动化工 具本身针对ASIC和FPGA都适用。 项目主要研究:(1)研究基于模型层的设计空间探索方法;(2)研究可重构 神经网络硬件单元抽象和归约方法;(3)开发面向嵌入式、功耗约束下的FPGA神 经网络芯片系统,突破神经网络芯片设计小型化遇到的关键难题。本项目提出的自 动综合工具至少支持CNN 等两类不同神经网络拓扑,支持Caffe配置文件prototex 拓扑描述语言,生成的FPGA芯片,性能比CPU快1个数量级,能效比
中国科学院大学 2021-01-12
一种用于多自由度倒装键合过程的芯片控制方法
本发明公开了一种用于多自由度倒装键合过程的芯片控制方法,其主要控制过程包括:获取芯片的贴装位置信息;键合头拾取芯片,获取芯片 Z 旋转轴和 X/Y 直线轴的角度及位置粗调偏差值,然后在执行粗调的同时,实现 X/Y 直线轴的闭环跟随控制;获取芯片 X/Y 旋转轴的当前实际角度值,并在逐次选择 X/Y 旋转轴执行角度闭环控制的同时,实现另外两直线轴的位置闭环跟随控制;获取芯片 Z 旋转轴和X/Y 直线轴的角度及位置精调偏差值,然后在执行精调的同时,实现X/Y 直线轴的闭环跟随控制。通过本发明,可使得芯片
华中科技大学 2021-04-14
一种红外图像与波前双模一体化成像探测芯片
本发明公开了一种红外图像与波前双模一体化成像探测芯片,包括:陶瓷外壳、金属支撑与散热板、驱控与预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及面阵红外折射微透镜,驱控与预处理模块、面阵非制冷红外探测器、以及面阵红外折射微透镜同轴顺序设置于陶瓷外壳内,陶瓷外壳后部设置于金属支撑与散热板顶部,驱控与预处理模块设置于陶瓷外壳后部与金属支撑与散热板连接处,面阵非制冷红外探测器设置于驱控与预处理模块顶部,面阵红外折射微透镜设置于面
华中科技大学 2021-04-14
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